BMS College of Engineering, Bangalore, India;
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Central Power Research Institute, CV Raman avenue,PB No. 8066, Bangalore-560080, India;
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机译:试验方法对绝缘子串直流污染闪络电压及其闪络过程的影响研究
机译:绝缘子外形对污染条件下直流闪络电压的影响。使用动态弧模型的研究
机译:高分子绝缘体DC闪络电压的新试验研究:表面电荷和空气湿度的组合效应
机译:对DC电压进行绝缘子的热失控测试
机译:直流电压下绝缘子的闪络机理和实验室评估。
机译:一项针对慢性皮层下中风受试者的随机试验中MI-BCI训练与tDCS结合后的大脑可塑性:一项初步研究
机译:在热室内经受高直流(DC)电压的复合绝缘体中的玻璃 - 环氧芯棒样品的老化试验