Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831;
Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831;
Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831;
J-R curve testing; normalization method; DCPD;
机译:通过直流电位降测量通过直接电流下降测量来裂纹生长特性
机译:测定碳/碳复合材料和碳质耐火材料的抗裂纹扩展曲线的电位下降技术的评估
机译:测定碳/碳复合材料和碳质耐火材料的抗裂纹扩展曲线的电位下降技术的评估
机译:应用直流电位下降的J-积分与裂纹生长曲线表征
机译:用于多功能陶瓷涂层结构裂缝检测的交流电势降测量的计算模型。
机译:施加直流电压的动态跌落测试过程中硅橡胶表面疏水性损失的特性
机译:利用夹规和直流电位下降监测在线疲劳裂纹扩展