Department of Electrical Engineering and Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, 02139, U.S.A.;
Department of Electrical Engineering and Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, 02139, U.S.A.;
Random access memory; Switches; MOS devices; Discharges (electric); Layout; Silicon-on-insulator; Arrays;
机译:在L1数据高速缓存中用3T1D DRAM替换6T SRAM以应对工艺变化
机译:具有8 T SRAM单元和数据相关写入辅助功能的32 kb 0.35–1.2 V,50 MHz–2.5 GHz比特交错SRAM,采用28nm UTBB-FDSOI CMOS
机译:用于动态电压/频率可扩展6T SRAM的三模独立门FinFET
机译:0.36V 128KB 6T SRAM,具有节能动态体偏置和28nm FDSOI的输出数据预测
机译:在缅因州创建鸟类存在的空间显式预测:评估输入数据,模型性能和模型输出。
机译:监测数据证实了纽约市轮状病毒动态的多年预测
机译:具有数据感知动态电源写入辅助功能的55nm 0.5V 128Kb交叉点8T sRam