Dept. of Physics, New Jersey Institute of Technology, 323 Dr. Martin Luther King Blvd., Newark, NJ, USA 07102;
Dept. of Chemistry, New Jersey Institute of Technology, 323 Dr. Martin Luther King Blvd., Newark, NJ, USA 07102;
Air Force Research Laboratory, Wright-Patterson AFB, OH;
Picometrix, 2925 Boardwalk Dr., Ann Arbor, MI 48104;
Dept. of Chemistry, New Jersey Institute of Technology, 323 Dr. Martin Luther King Blvd., Newark, NJ, USA 07102;
Dept. of Physics, New Jersey Institute of Technology, 323 Dr. Martin Luther King Blvd., Newark, NJ, USA 07102;
Terahertz; time-domain Spectroscopy; degradation;
机译:使用太赫兹时域光谱技术对集成电路封装中的隐藏空隙进行无损评估
机译:电化学阻抗谱法无损评估多层热障涂层的降解
机译:使用太赫兹时域光谱法快速和非破坏性的孔隙结构分析
机译:使用太赫兹时域光谱法的特种涂层劣化的无损评价
机译:凝聚相的超快时域太赫兹光谱:线性化学光谱法测量冰化学类似物的氢键动力学和非线性量子振动的太赫兹克尔效应测量
机译:千兆赫时域光谱和成像技术用于无损材料的研究和评估
机译:基于太赫兹技术的多层有机保护涂层下隐藏缺陷的无损评价