INO Quebec, 2740, rue Einstein, Quebec City, G1P 4S4, PQ, Canada;
COM DEV Ltd., 303 Terry Fox Drive #100, Ottawa, K2K 3J1, Ontario, Canada;
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Departement de physique, Universite de Montreal, C.P. 6128, Montreal, Qc, H3C 3J7,rnCanada;
Etalon; Coating, Thin-Film; amorphous Silicon; SiO_2; Ellipsometry; Fabry-Perot Mirror;
机译:通过使用倾斜角光学配置的椭圆偏振光谱法表征掺入织构的a-Si:H / c-Si太阳能电池结构中的a-Si:H薄层
机译:椭圆偏振光谱法对具有纳米级a-Si:H和In_2O_3:Sn层的a-Si:H / c-Si异质结太阳能电池结构进行无损表征
机译:从196到1688nm(0.735-6.33ev)的SiO_2光学常数从20,40和60nm的反应溅射SiO_2上的Eagle XG〜? 玻璃通过光谱椭圆形测定法
机译:A-Si / SiO_2的光谱椭圆形测定法为TheJWST-FGS-TFI标准龙板制造的A-Si / SiO_2大波段涂层
机译:薄膜A-Si的光谱椭圆形研究:H / NC-Si:H MicroMorph太阳能电池制造在P-I-N超级型配置
机译:多孔氧化铝涂料,用于发展光谱椭圆形基的生物传感器:人血清白蛋白吸附的评价