FIBA, Postfach 3350, D-89023 Ulm, Germany;
small interferometers; semiconductor lasers; holography; holographic interferometry; speckle metrology; digital speckle pattern interferometry; inspections and measurements of optomechatronic systems; manufacturing control in the industrial environments;
机译:使用近红外二极管激光器和反射全息光学元件的紧凑型电子散斑图案干涉仪
机译:与楔形板剪切干涉仪和Talbot剪切干涉仪的全息剪切干涉仪光束准直的敏感性比较
机译:全息光学元件组成的双孔径散斑干涉仪改进版的设计与分析:在平面位移分量测量中的应用
机译:非常小的便携式全息干涉仪和具有用于工业检查的半导体激光源的紧凑型散斑干涉仪
机译:全景电子散斑图案干涉仪。
机译:斜入射和掠入射Talbot‑Lau干涉仪的原理以及在紧凑型X射线反射干涉仪中的演示
机译:使用紧凑型全息横向剪切干涉仪(错误)具有不同直径的激光束的准直测试
机译:在低温傅里叶变换光谱仪中使用半导体激光/ LED参考源的参考干涉仪