MEMS Laboratory, Samsung Advanced Institute of Technology, Suwon, Korea;
MEMS; young's modulus; aluminum; thin film; cantilever; tip deflection; resonant frequency; FEM; reinforced flange; deflection-resistant;
机译:超高Q硅悬臂谐振器,用于薄膜内摩擦和杨氏模量测量
机译:超高Q硅悬臂谐振器,用于薄膜内摩擦和杨氏模量测量
机译:使用微机械悬臂梁传感器有效地测量薄膜的杨氏模量
机译:悬臂结构铝薄膜的杨氏模量测量
机译:氧化锶铁/二氧化硅/硅和氧化锶铁/氧化铝薄膜系统的热稳定性:透射电子显微镜研究薄膜系统的界面结构和氧化锶铁/氧化铝的电导传感响应。
机译:集成激光诱导的压电/差分共焦表面声波系统用于测量薄膜杨氏模量
机译:用微机械悬臂梁传感器测量薄膜的有效杨氏模量