II. Physikalisches Institut, Aachen University of Technology (RWTH), D-52056 Aachen, Germany;
hard x-ray microscope; full field imaging; tomography; compound refractive lenses; contrast formation;
机译:土壤微生物的定量表征:亚微米分辨率同步X射线显微图的新机遇
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机译:放大的硬X射线显微图:用亚微米分辨率朝向断层扫描
机译:通过高分辨率X射线显微断层照相术测定的金铁矿矿石的有限极限品位/回收率曲线。
机译:基于同步加速器的硬X射线显微断层摄影术对电池进行故障分析
机译:土壤微生物的定量表征:亚微米分辨率同步X射线微观图的新机遇
机译:具有亚微米分辨率的软X射线扫描显微断层照相术