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【24h】

Separation of Individual Noise Sources from Compound Noise Measurements in Digital Circuits

机译:从数字电路的复合噪声测量中分离出单个噪声源

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摘要

Analysis of individual noise sources in pre-nanometer circuits cannot take into account the evolving reality of multiple noise sources interacting with each other. Noise measurement made at an evaluation node will reflect the cumulative effect of all the
机译:在纳米前电路中对单个噪声源的分析不能考虑到多个噪声源相互作用的不断发展的现实。在评估节点上进行的噪声测量将反映所有

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