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DC バイアススパッタ法を用いて作製したMoS_2 膜のラマン分光評価

机译:直流偏压溅射法制备MoS_2薄膜的拉曼光谱评价

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摘要

MoS_2 化合物ターゲットを使用したRF マグネトロンスパッタ法によるMoS_2薄膜成長では、基板加熱により膜中に硫黄欠損が生成されることで結晶化が阻害されるなど課題が存在する。我々がこれまでに実施してきた堆積後硫化アニールのような2 ステップによる硫黄欠損補填法では、モリブデン原子のマイグレーション不足により結晶性に課題が存在し、1 ステップでの硫黄欠損抑制が望まれる。本研究ではスパッタMoS_2 作製時、基板に正のDC バイアス電圧を印加することで結晶性が向上することをラマン分光法により確認したので報告する。
机译:通过使用MoS_2化合物靶的RF磁控溅射进行的MoS_2薄膜生长具有诸如由于基板加热而在膜中产生的硫缺乏引起的结晶抑制等问题。到目前为止,在诸如已经进行的沉积后硫化退火的两步硫缺乏填充方法中,由于钼原子的迁移不足,导致结晶度存在问题,并且期望一步抑制硫缺乏。在这项研究中,我们通过拉曼光谱法证实,通过在溅射MoS_2的制备过程中向基板施加正的DC偏置电压,可以提高结晶度。

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