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【24h】

Interferometry Applied to Testing Large Optics

机译:干涉仪用于测试大型光学器件

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摘要

The polishing and figuring of moderate to large optics (> ~ 30cm diameter) places stringent demands on optical metrology. These demands arise due to the combination of large physical size and mass, long optical path-lengths in a direct optical test, and the increasing requirement for fast focal ratios. This paper summarizes some important aspects of the subject and overviews some approaches used at the Optical Science Laboratory and elsewhere.
机译:中大型光学器件(直径大于或等于30cm)的抛光和加工对光学计量有严格的要求。这些要求的产生是由于物理尺寸和质量较大,直接光学测试中的光路长度较长以及对快速焦比的要求不断提高。本文总结了该主题的一些重要方面,并概述了光学科学实验室和其他地方使用的一些方法。

著录项

  • 来源
  • 会议地点 Brighton(GB)
  • 作者单位

    Optical Science Laboratory, Dept. of Physics and Astronomy, University College London, Gower Street, London, WC1E 6BT;

    Optical Science Laboratory, Dept. of Physics and Astronomy, University College London, Gower Street, London, WC1E 6BT;

    Optical Science Laboratory, Dept. of Physics and Astronomy, University College London, Gower Street, London, WC1E 6BT;

  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用;
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