Northrop Grumman, Electronic Systems PO Box 1521 M/S 3K13, Baltimore MD 21203;
capacitor; dielectric breakdown; lifetime; ramped voltage; constant voltage; linear field model; reciprocal field model;
机译:通过逐步应力法确定GaAs IC工艺中氮化硅电容器的恒定电压寿命
机译:电容器的单次,重复和终身高压测试
机译:恒压负载测试期间水对活性炭基电化学双层电容器老化的影响
机译:从斜坡电压和恒定电压测试确定的诸如诸如SIN电容的寿命
机译:飞跨电容器转换器的电容器电压平衡策略。
机译:电双层电容上的高温降解测试:剩余电压对劣化的影响
机译:TiO $ _ {2}的解决方案由恒定电压源激发的Memristor-Coverient系列电路及其应用来计算可编程TiO $ _ {2} $ Memitor-Pock-Pocket-Lastation振荡器的操作频率