Toyota Technological Institute at Chicago, Chicago, IL 60637, USA;
机译:凸起和非凸的统计推断方法与类条件嘈杂标签
机译:通过凸风险最小化估计散度函数和似然比
机译:发散函数,对偶和凸分析
机译:通过凸二元性统一发散最小化和统计推断
机译:关于Burr III型分布的双重广义阶统计量的统计推断。
机译:稻瘟病抗性基因Pi-ta选择和趋异的统计推断
机译:函数的拟共轭,反向凸约束下的拟凸最小化和凸约束下的拟凸最大对偶关系以及应用
机译:凸最小化问题的稳定性和对偶性。