Department of Microelectronics,Peking University,100871,P. R. China;
Department of Microelectronics,Peking University,100871,P. R. China;
School of Electronics Engineering and Computer Science,Peking University,100871,P. R.China;
School of Physics,Peking University,100871,P. R. China;
School of Physics,Peking University,100871,P. R. China;
Phonon modes; AIGaN alloy; AIGaN/GaN MQW; strain; stress;
机译:AIGaN / AIN / AIGaN / GaN驼峰通道中热声子的超快衰减
机译:极化相关的电荷控制模型,用于评估AIGaN / GaN / AIGaN双异质结构HEMT的微波性能
机译:GaN和具有薄氧化物夹层的AIGaN / GaN MOS器件的热稳定性比较研究
机译:AlGaN合金中的声子模式与Algan / GaN MQW中间层
机译:AIGaN / GaN基气体传感器中电极催化反应的电响应的表征和建模。
机译:具有抗条锈病的中国黑麦L. Aigan的新小麦黑麦1R(1B)取代和易位系的分子细胞遗传学表征。
机译:通过电子和光学方法在AIGaN / GaN中确定LO声子能量
机译:高压aIGaN / GaN HFET中的物理建模和可靠性机制。