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UPSET DETECTION FOR CLOSED-LOOP LABORATORY HIRF TESTING OF FAULT TOLERANT AIRCRAFT CONTROL COMPUTERS

机译：用于故障容错飞机控制计算机的闭环实验室高温测试的UPSET检测

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《Advanced semiconductor manufacturing conference and workshop : ASMC '92 Proceedings》|1992年|p.438-438|共1页
会议地点 Cambridge MA(US);Cambridge MA(US)
作者
Belcastro C.M.; Fischl R.;
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作者单位

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原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类自动化技术、计算机技术;半导体器件制造工艺及设备;
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