automatic test pattern generation; combinational circuits; design for manufacture; fault diagnosis; integrated circuit testing; integrated circuit yield; system-on-chip; DFM; SoC; automated fault diagnostics; automatic test pattern generation; behavior effects; circ;
机译:农场和田间主要养分N,P和K的平衡,以及提高实际产量与估计作物产量之间比较的一些可能性
机译:日本不同生产系统中马铃薯的实际和潜在产量水平
机译:核转运需要增加CIS,SOCS1,SOCS2或SOCS3的细胞质水平。
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机译:为所有层次的学习提供创造性的协作
机译:儿童保护服务:迈向有效学习的步骤:为CPS工作人员设计的将学习转移到实际实施中的程序
机译:对称性,角度分布(psi prime)产生(gamma)(chi)产量(gamma)(gamma)(psi),在解释和chi(3400-3550)级别。