Politecnico di Milano, Dipartimento di Elettronica e Informazione, piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133 Milano, Italy;
rnPolitecnico di Milano, Dipartimento di Elettronica e Informazione, piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133 Milano, Italy;
rnPolitecnico di Milano, Dipartimento di Elettronica e Informazione, piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133 Milano, Italy;
rnIMM-CNR sezione di Bologna, Via Piero Gobetti, 101-40129 Bologna, Italy;
Politecnico di Milano, Dipartimento di Elettronica e Informazione, piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133 Milano, Italy MPD Micro-Photon-Devices, via Stradivari 4-39100 Bolzano, Italy;
rnPolitecnico di Milano, Dipartimento di Elettronica e Informazione, piazza Leonardo da Vinci 32 - 20133 Milano, Italy MPD Micro-Photon-Devices, via Stradivari 4-39100 Bolzano, Italy;
single-photon avalanche diode (SPAD); photon detection efficiency (PDE); time correlated single photon counting (TCSPC); enhanced photon detection efficiency;
机译:基于物理的模型,用于评估SPAD检测器的光子检测效率和时间响应
机译:基于物理的模型,用于评估SPAD检测器的光子检测效率和时间响应
机译:通过使用硅锗吸收层提高硅光子计数雪崩光电二极管的红外检测效率
机译:具有改善的光子检测效率的平面硅SPAD
机译:用于内部沉积放射性核素的光子检测效率的非光谱辐射门户监测器的蒙特卡罗模拟和实验测量。
机译:使用双衰减器技术可溯源的单光子硅雪崩光电二极管的检测效率校准
机译:基于SPAD基可见光接收器中的光子检测效率和动态范围分析