Tokyo University of Agriculture Technology, Koganei, Tokyo 184-8588 Japan;
oblique incidence interferometer; anti-reflection; sub-wavelength structure;
机译:非线性干涉仪辐射倾斜入射情况下局部结构的运动
机译:无掩模反应离子刻蚀法增强亚波长表面结构ZnTe晶体的超宽带减反射性能
机译:聚碳酸酯薄膜上的亚波长结构(SWS),用于通过气体辅助热压花进行抗反射
机译:使用SWS PRISM的超斜入射干涉仪
机译:一种用于感测亚波长结构扰动的调制白光干涉仪。
机译:斜入射和掠入射Talbot‑Lau干涉仪的原理以及在紧凑型X射线反射干涉仪中的演示
机译:斜入射下宽带增透膜的仿真