Instituto de Ceramica y Vidrio (CSIC), Departamento de Electroceramica, 28500-Arganda del Rey, Madrid, Spain;
lattice parameter; raman spectroscopy; tetragonal zirconia; mixed conductivity;
机译:ZrO_2-CeO_2-TiO_2体系中稳定四方氧化锆的混合(氧离子和n型)电导率及结构表征。
机译:掺杂二氧化钛的氧化钇四方氧化锆多晶/掺杂二氧化钛的氧化钇稳定的氧化锆复合阳极基质的混合电导率,结构和微观结构表征
机译:部分稳定和四角形氧化锆固体电解质的微观结构表征
机译:基于交流电导率基于氧化钇稳定的氧化锆的微观结构表征
机译:加速人工时效引起的四方相向单斜相转变以及稳定氧化锆中微观结构的影响。
机译:3mol%氧化钇稳定的四方氧化锆多晶体和两种不同的含氧化铌氧化锆陶瓷的成骨潜力分析
机译:使用X射线光电子光谱法在水和Hanks溶液中市售的yTTRIA稳定四方氧化锆多晶的表面表征
机译:四方和立方氧化钇稳定氧化锆中晶间相的表征