Waseda University Department of Electrical, Electronics, and Computer Engineering 3-4-1 Ohkubo, Shinjuku, Tokyo 169-8555, JAPAN;
机译:具有正常边际的独立性的多元经验特征函数检验
机译:基于功能索引的经验过程的独立性的一般测试
机译:基于经验copula过程的Cramér-vonMises泛函的连续随机向量之间的独立性检验
机译:基于条件分布函数的方法,用于设计独立性和条件独立性的非参数检验
机译:基于经验特征函数的拟合度检验
机译:ICT和AIE特性的两种氰基官能化探针及其光物理性质DFT计算细胞毒性和细胞成像应用
机译:通过经验特征函数检验独立性