Department of Electronic and Electrical Engineering, Ewha Womans University;
Department of Electronic and Electrical Engineering, Ewha Womans University;
Resistors; Microprocessors; Arrays; Leakage currents; Resistance; Degradation;
机译:使用单元可变性仿真方法读取交叉开关阵列的余量分析
机译:交叉开关RRAM阵列:读取操作期间的选择器设备要求
机译:用于具有可调电压裕量的电阻随机存取存储器交叉开关阵列的非晶态二氧化钛金属绝缘体金属选择器装置
机译:根据选择器和电阻变化的跨杆阵列读取边缘分析
机译:多级基于存储器的电阻器的无损交叉开关架构
机译:用于3D可堆叠式交叉开关阵列电子设备的所有基于氧化物半导体的双向垂直p-n-p选择器
机译:用于具有可调电压裕量的ReRAM交叉开关阵列的非晶态二氧化钛金属绝缘体金属选择器设备