Ball Aerosp., Boulder, CO, USA;
radiation hardening (electronics); testing; DDD test; SEE test; ball aerospace TID compendium; ball aerospace systems; displacement damage dose; single event transient; total ionizing dose; Dielectrics; Ions; Metals; Operational amplifiers; Testing; Transient analysis; Xenon;
机译:CCD在CMOS器件上的辐射效应:首先分析TID和DDD效应
机译:吸尘 为 ddddddddddINTEGRITY
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机译:焊球抗拉试验条件的试验研究及与板级机械跌落试验的相关性
机译:质子辐射对PPD CMOS图像传感器暗信号分布的影响:TID和DDD效应
机译:质子辐射对ppD CmOs图像传感器暗信号分布的影响:TID和DDD效应