Graduate School of Science and Technology, Kyoto Institute of Technology, Kyoto, Japan;
Correlation; Degradation; Frequency measurement; MOSFET; Reliability; Semiconductor device measurement; BTI; process variation; reliability;
机译:主轴转速连续变化的铣削过程的稳定性:频域和时域分析以及实验相关性
机译:青春期加工速度与特定主轴频率之间的相关性
机译:加工降解指数(PDI)-聚丙烯加工稳定性的定量度量
机译:通过测量ROS频率的BTI诱导的降解和过程变化的相关性
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:青春期加工速度与特定主轴频率之间的相关性
机译:用于处理退化语音的跨频时间包络相关:初步调查。
机译:测量微波功率变化引起的频率变化作为铷频率标准中C场设置的函数