Department of Electrical and Communication Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China;
LFSR; Low Testing Power; Two-bit Twisted Ring Counter;
机译:确定性的内置测试图生成,使用扭曲环计数器为高性能电路生成
机译:使用双环计数器为高性能电路确定性地内置测试模式生成
机译:基于可重配置运行时可编程和多个扭曲环计数器的片上测试生成方案的设计与实现
机译:基于两位扭转环计数器的新型低功耗测试模式发生器
机译:用于定量信息流的两位模式分析。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:基于可重配置运行时可编程和多个扭曲环计数器的片上测试生成方案的设计与实现