Physikalisches Institut, Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt, D-60438, Germany;
CMOS transistor; detection of terahertz radiation; low-frequency noise; photoresponsivity; signal-to-noise ratio;
机译:漏极电流增强CMOS太赫兹检测器的性能
机译:通过导电和低频噪声测量研究底栅纳米晶硅薄膜晶体管中的漏电流
机译:通过导电和低频噪声测量研究底栅纳米晶硅薄膜晶体管中的漏电流
机译:使用漏极电流偏压的硅CMOS检测器中的Terahertz反应性增强和低频噪声研究
机译:硅CMOS FET作为太赫兹和次太赫兹检测器
机译:基于等效电路模型的亚阈值区域CMOS太赫兹等离子体检测器的准静态分析
机译:宽带太赫兹功率探测器基于90-NM硅CMOS晶体管,平面响应率高达2.2至THz