High-Frequency Technology Center, Agilent Technologies Inc., Santa Rosa, CA 95401 USA;
NVNA; X-parameters; compact models; device modeling; parameter extraction;
机译:从X参数提取Volterra级数表示形式以进行微波设备建模
机译:GaN HEMT器件上的X参数测量:降低负载-负载表征测试装置的复杂度研究
机译:使用负载拉动和X参数模型设计和实现宽带,高效,高功率放大器
机译:使用NVNA和X参数建模
机译:改善CDTE设备的Voc的方法:设备建模和更薄的设备,可选的后触点。
机译:基于物理的设备模型和有源压电半导体器件的进度综述
机译:利用X参数表征无源RF器件中的无源互调
机译:使用BURN42的半导体器件建模:用于建模固态器件的一维代码