A Novel Method for Defect Location Using IDDQ

机译：一种使用IDDQ进行缺陷定位的新方法

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A novel algorithm for fault location using IDDQ has been presented in this paper. A significant advantage of this method is that it could effectively locate multiple defects in a circuit. Experiment used to illuminate this algorithm is discussed in details.

机译：提出了一种新的基于IDDQ的故障定位算法。这种方法的显着优点是它可以有效地定位电路中的多个缺陷。详细讨论了用于阐明该算法的实验。

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来源
《2004 International Conference on Communications, Circuits and Systems vol.2: Signal Proceesing, Circuits and Systems 》|2004年|P.1325-1328|共4页
会议地点 Chengdu(CN)
作者
Xu Burong; Xu Hongbing; Deng Ying; Wang Houjun;
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作者单位

School of Automation Engineering University of Electronic Science and Technology of China Chengdu Sichuan 610054 P.R.China;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类
关键词
fault location; IDDQ testing; multiple faults;

机译：故障位置； IDDQ测试；多重故障;

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