School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, 777 Atlantic Drive NW, Atlanta, 30332-0250 USA;
SET; SEU; SiGe; TCAD; mixed-mode; radiation;
机译:建立最佳实践建模方法,以了解Gb / s SiGe数字逻辑中的单事件瞬变
机译:在SiGe BiCMOS直接转换接收器中对单事件瞬态传播进行建模
机译:SiGe基准电压源电路中单事件瞬态的精确建模
机译:建立最佳实践建模方法,用于了解GB / S SiGe数字逻辑中的单事件瞬态
机译:温度对深亚微米体和绝缘体上硅数字CMOS技术中单事件瞬变的影响。
机译:缓解SiGe-HBT电流模式逻辑电路中的单事件效应
机译:对复杂数字系统中的单事件瞬态进行建模