College of Computer and Communication, Hunan University, Changsha, Hunan 41008;
I_(DDT) testing; delay assignments; stuck-open fault;
机译:基于危害的ATPG,可提高延迟测试质量
机译:基于仿真的ATPG用于异步电路中串扰延迟故障的低功耗测试
机译:MONSOON:基于SAT的ATPG,用于使用多值逻辑的路径延迟故障
机译:基于模糊延迟分配的I_(DDT)ATPG
机译:使用动态交通分配估算交通网络中基于网络的事件延迟。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:基于saT的aTpG中布尔编码对路径延迟故障的影响*