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Background time skew calibration for time-interleaved ADC using phase detection method

机译:使用相位检测方法的时间交错ADC的背景时间偏斜校准

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摘要

This paper presents a background time skew calibration technique for time-interleaved analog-to-digital converter (TIADC). It depends on the phase detection between a digitally generated calibration signal and the output of each ADC in the system that suffers from time skew mismatch. Digitally controlled delay lines (DCDL) are used to minimize the time skew mismatches among the clock routes. The calibration technique behaviors are theoretically analysed and verified by simulations. A 12-bit 4-channel, 800 MS/s TIADC is used as an example.
机译:本文提出了一种用于时间交织的模数转换器(TIADC)的背景时间偏斜校准技术。这取决于数字生成的校准信号与系统中每个ADC的输出之间的相位检测,该输出存在时间偏移失配。数控延迟线(DCDL)用于最大程度地减少时钟路径之间的时间偏差。理论上分析了校准技术的行为,并通过仿真进行了验证。以一个12位4通道,800 MS / s TIADC为例。

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