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姜燕; 白小龙; 居冰峰;
中国仪器仪表学会;
集成电路; 芯片检测; 内部缺陷; 超声扫描;
机译:超声:用于超声图像缺陷检测的空间自由扫描系统的开发和评估
机译:用于集成电路真实性分析的先进的显微技术
机译:扫描激光超声实验,用于集成电路的原位无损分析
机译:用于低成本,袖珍型C扫描医学超声成像的集成电路设计。
机译:扫描声显微镜(SAM):一种用于医学成像的超声探头制造过程中缺陷检测的可靠方法
机译:扫描声学显微镜(SAM):用于医学成像的超声探头制造过程中的缺陷检测的鲁棒方法
机译:扫描电子显微技术确定大气粒子大小分布
机译:电子扫描型超声波缺陷检测装置中缺陷检测条件的校正
机译:基于tofd缺陷检测技术的超声缺陷检测器及超声缺陷检测方法
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