MEMS在片测试系统整体校准技术探讨

摘要

随着MEMS技术的高速发展，MEMS晶圆片测试是MEMS产品整个生产工程必不可少的环节，MEMS晶圆片测试系统，可以大大提高测试效率，降低新产品的开发及生产成本。所以保障MEMS晶圆片测试系统的准确性至关重要。本文主要浅析了MEMS晶圆片测试系统的现状以及整体校准问题，简单的提出了较好的解决措施初步方案。目前正在进行MEMS晶圆片测试系统整体校准技术的研究，项目初步进展顺利，希望MEMS晶圆片测试系统整体校准可以早日实现，能够更好地为MEMS器件的量产提供计量保障，为MEMS器件的设计优化提供技术支持。