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一种存储器自修复机制的实现

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嵌入式存储体目前已经广泛用于芯片设计,对于很多芯片而言,片上存储体是影响芯片成品率的主要因素,在某芯片内集成了大量的定制存储体D_MM,本文采用内建自修复和存储体冗余技术实现对该存储体的在线测试与修复,两者紧密结合满足了很高的设计频率指标要求,并且能够对MBISR电路进行有效的功耗控制.

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来源
《2012全国高性能计算学术年会》|2012年|1-5|共5页
会议地点张家界
作者
SHI Jing-Jing; 施晶晶; XU Yong; 许勇; REN Xiu-Jiang; 任秀江; CHEN Yan-Tin; 陈彦庭;
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作者单位

中国计算机学会;

中国软件行业协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类存贮器;
关键词
存储体; 自修复机制; 冗余技术; 低功耗设计;
入库时间 2022-08-17 11:10:36

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