首页> 中文会议>中国园艺学会黄瓜分会第五届年会 >黄瓜幼苗弱光耐受性鉴定体系研究

黄瓜幼苗弱光耐受性鉴定体系研究

摘要

本试验选用6个弱光耐受性及生态型不同的黄瓜高代自交系(自交10代以上)为试材,利用光照培养箱严格控制生长条件,依据0-5级鉴定标准,由公式计算耐弱光指数,以耐弱光指数为主,结合光合、生长等因子进行多元统计分析,综合评价黄瓜耐弱光性。依据此体系,对现有不同生态型的黄瓜种质资源进行耐弱光性评价,筛选出富含耐弱光基因的黄瓜种质资源。其中弱光品系M67在弱光胁迫下生长良好,幼苗下胚轴没有显著变化,未出现“花打顶”现象;叶绿素含量、光合速率及叶片叶绿体超微结构在弱光胁迫与正常光下变化不大,表现为很强的耐性。可以利用此品系进行耐弱光相关基因筛选及新品种选育等研究。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号