不同密钥下密码芯片攻击程度与样本量关系分析

摘要

为确保密码芯片自身的安全性和用户信息不受外界窃取,需要对密码芯片安全性进行评估.在众多旁路攻击技术中,由于功耗攻击技术简单易行,且成本低,所以功耗攻击能对密码芯片构成很大的威胁.因此,对密码芯片进行抗功耗攻击能力评估是一项很重要的任务.但是,对同一款密码芯片在输入不同密钥情况下进行功耗攻击时所得的结果是不一样的,所以,不同密钥下密码芯片攻击程度与样本量的关系需要进行实验分析,最终得出基本曲线走势.本文就基于FPGA实现的AES密码算法进行功耗攻击,在不同密钥情况下,总结密码芯片攻击程度与样本量的关系.从而得出一款密码芯片中较难被攻击出来的部分密钥,增强用户使用密码芯片的安全性,同时也为密码芯片抗功耗攻击能力评估分析提供重要指标.