一种基于无理数的测试数据压缩方案

摘要

随着集成电路规模增大，庞大的测试数据量己成为影响集成电路测试的主要问题之一。提出一种动态编码压缩技术,其并不直接用代码字来存储游程长度,而是将游程长度出现的规律表示成形如k(√)m/l(其中m,l,k全部是整数)无理数,存储时只用存储m,l,k和原始测试数据长度p等四个整数.可以将对整个测试集的存储转换成了单个或若干个无理数对应的整数存储.另外,提出一种二分查找无理数的方法,将对无理数的计算转换成对无理数的查找,减少了算法的复杂度.对ISCAS 89部分标准电路的实验结果表明,本方法在压缩效果方面优于Golomb码、FDR码、EFDR码、混合定变长码等.