高密度、阵列式的表面肌电技术对脑性瘫痪的侧弯反射检测研究

摘要

目的:侧弯反射是脑性瘫痪儿童神经行为检测的一个重要指标,其阳性率与临床医生的经验有关.缺乏科学,简单的监测手段.rn 方法:本研究采用阵列式高密度的表面肌电技术,对24例侧弯反射阳性的脑性瘫痪儿童,30名侧弯反射阴性的正常儿童(经两名副主任以上医师鉴定)进行侧弯反射测定,探讨其临床应用的价值.rn 结果:阳性组24例脑性瘫痪儿童的MMAV(侧弯反射阳性检测的量化指标)为48.946548.9465±17.39160,阴性组MMAV为3.1460±1.18483,两组差别有显著性(t=11.750,p＜0.01).rn 结论:采用表面肌电检测技术测试侧弯反射，不仅可以定性，而且可以定量，值得临床推广应用。