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两种电制冷能谱在不同计数率下谱峰漂移对定量结果的影响

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本文对两种不同的电制冷能谱(SDD)在不同计数率下的谱峰稳定性和对定量分析结果的准确性进行了研究,结果表明集成了场效应管(FET)的SDD存在明显的谱峰漂移,定量分析的结果的变化范围也远远超出了能谱分析误差的国际标准.而FET与SDD独立的能谱系统没有探测到谱峰漂移,定量分析结果的变化范围在能谱分析误差的国际标准规定以内.在使用集成了FET的SDD能谱系统时,要尽量在较低的计数率下工作才能获得较好的定量数据.

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来源
《第七次华北五省市电子显微学研讨会及第九届全国实验室协作服务交流会》|2012年|26-34|共9页
会议地点江西吉安
作者
焦汇胜; 孟丽君; 吴秀华;
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作者单位

华北五省市电镜学会;

北京理化分析测试技术学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类能谱仪;
关键词
电制冷能谱; 计数率; 谱峰漂移; 定量分析;
入库时间 2022-08-17 10:58:47

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