Fe掺杂引起光催化二氧化钛薄膜结构效应的正电子研究

摘要

采用固相反应法制备了BaTiO3多晶陶瓷样品,利用正电子湮灭技术、结合XRD结构分析和HP4294A阻抗分析仪的介电特性分析,对BaTiO3多晶陶瓷烧结过程进行了研究,给出了烧结温度、烧结时间对BaTiO3多晶陶瓷结晶度、结构缺陷和介电特性的影响.实验结果表明:随着烧结温度的提高和烧结时间的延长,BaTiO3陶瓷样品的微观缺陷发生了小尺寸缺陷的聚集,同时BaTiO3内部应力能的释放使得更大尺寸的缺陷(空位团、微空洞等)发生解体.正电子平均寿命与介电特性的匹配反应了微观缺陷引起空间电荷限制流分布对宏观介电特性的影响,介电性能的变化完全可以在空间电荷限制流的框架下理解.