首页> 中文会议>第五届EPTC输电年会 >绝缘子污秽颗粒粒径检测方法研究

绝缘子污秽颗粒粒径检测方法研究

摘要

绝缘子积污是污闪发生的前提,而粒径是影响绝缘子积污的重要因素.本文以长期自然积污的绝缘子污秽为研究对象,分别采用激光粒度法与显微图像法对绝缘子污秽样品粒径进行检测,讨论适合自然积污绝缘子污秽粒径测量的方法.研究表明,激光粒度法和显微图像法所测粒径结果存在差异,激光粒度法对于小粒径颗粒的检测更敏感,方法原理不同是导致结果差异的根本原因.两种方法所测结果根据分布频率函数计算得到相关系数为0.932,表明相关性显著,且都服从对数正态分布.激光粒度法重复性显著优于显微图像法,且随着粒径的增大方法的精密度增强.绝缘子污秽颗粒粒径测量的应用方法还需进一步研究证实.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号