固態光源加速壽命試驗技術介紹

摘要

在美国北美照明协会率先推出LM-80 LED光通量维持率测试标准和TM-21寿命推估方法,LED晶片的寿命推估有了一个明确的比较基准.而各国组织也开始着手建立更完善的LED晶片寿命测试,甚至是研究利用加速寿命测试的方式来缩短整个检测的时间,但不管是利用什麽方式都需考虑到LED晶片的三个主要劣化机制.且LED晶片的电流操作模式也会影响使用寿命的推估.而目前Highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)的测试方式是最有可能应用在加速寿命的测试上,但仍需要一个完整的数学模型来推估LED晶片的使用寿命和不同电流操作下的试验数据.