首页> 中文会议>2017远东无损检测新技术论坛 >X射线数字成像检测(DR)系统曝光曲线制作讨论

X射线数字成像检测(DR)系统曝光曲线制作讨论

摘要

对于X射线数字成像检测(DR)系统,针对不同厚度的检测对象,通常需要根据曝光曲线选择相应的射线能量、管电流、积分时间及焦距等工艺参数,本文通过试验确定了曝光参数(管电压、管电流)对图像灰度、对比度和信噪比的影响,为检测时合理选择检测工艺提供依据,进而对曝光曲线的制作进行了讨论.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号