弥漫性轴索损伤最新研究进展

摘要

弥漫性轴索损伤(DAI)是以脑白质轴索弥漫性损伤为主要特征的最重要的原发性脑外伤之一，迄今其形成机制尚未完全阐明，同时也是神经科学及法医学的研究、诊断难点，并常常引起司法纠纷。本文将充分阐述DAI发生、发展机制及分子病理学最新研究进展，包括钙离子超载、线粒体损伤、轴索运输障碍(IAT)等。同时，阐述DAI诊断方法学的研究进展，尤其是磁共振弥散张量成像（DTI）及质子磁共振波谱（1H-MRS）技术在DAI诊断中的应用，并对DAI的诊断方向作一展望。