粉末压片ED-XRF测定稀土矿石中的15个REEs

摘要

能量色散型X射线荧光光谱仪在短波(高能光子)范围内分辨率高,谱线干扰相对较少,在测定重元素方面有一定的优势.本实验利用能量色散型X射线荧光光谱仪,建立了一种粉末压片快速测定稀土矿石中主次量元素的分析方法.采用理论α系数法和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,讨论了制样压力以及测量时间对样品荧光强度的影响.通过该方法对两个实际稀土矿石样品进行了测定,结果与电感耦合等离子体质谱法基本吻合;对同一稀土矿石样品制成的9个样片进行了精密度试验,结果表明,各元素的相对标准偏差均小于15％.该方法操作简单,流程短,无需溶矿和富集,适合稀土矿石中15个稀土元素的快速分析.