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一种相控阵天线性能的验证方法

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大规模相控阵天线的综合问题是目前相控阵天线领域的难点.通过对小型阵列分析再综合大型阵列辐射模式是一种有效的评估方法.通过选取合适的小面阵规模并对其有源驻波、方向图等指标做出相应分析,有助于快速便捷的得出大型阵列辐射模式.

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来源
《2013年全国微波毫米波会议》|2013年|561-564|共4页
会议地点重庆
作者
Wu Wei; 武伟; Han Guodong; 韩国栋;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN821.8:TN820.1;
关键词
相控阵天线; 参数评估; 有源驻波; 方向图;

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