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分子印迹纳米粒电色谱法手性分离佐匹克隆的研究

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以右旋佐匹克隆(d-ZOP)为模板印迹的液晶基质分子印迹聚合物(MIP)对外消旋佐匹克隆进行手型拆分,用毛细管电色谱(CEC)表征MIP颗粒对外消旋佐匹克隆的分离性能.在最佳毛细管电色谱条件下,外消旋佐匹克隆能达到基线分离,分离度Rs达到5.60,d-ZOP的柱效达到15800,分离因子α达到1.20.结果表明该MIP颗粒对外消旋佐匹克隆具有较好的手型拆分能力.

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来源
《第二届环渤海色谱学术报告会》|2012年|874-877|共4页
会议地点青岛
作者
刘晓; 宗海燕; 黄艳萍; 刘照胜;
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作者单位

山东化学化工学会;

山东省理化分析测试协会;

青岛市分析测试学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类特种结构材料;
关键词
佐匹克隆; 手性拆分; 分子印迹纳米粒; 毛细管电色谱;
入库时间 2022-08-17 11:20:35

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