首页> 中文会议>第十一届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会 >PNP输入双极运算放大器高剂量率辐照高温退火评估方法初探

PNP输入双极运算放大器高剂量率辐照高温退火评估方法初探

摘要

选用了三种不同型号的PNP输入双极运算放大器,在正偏和零偏状态下进行了辐照实验,从而对高剂量率辐照后加温退火加速评估方法进行了探索。实验的结果表明:辐照后高温退火的实验结果乘以一定的倍数因子便可以较好地模拟PNP输入双极运算放大器的低剂量率辐照损伤,根据曲线的变化规律可以较快的鉴别器件是否存在低剂量率辐射损伤增强效应。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号