荧光X射线测量屏蔽材料质量衰减系数的不确定度分析

摘要

基于“单能”、“窄束”X射线在物质中的衰减规律，利用纯材料的荧光X射线作为单色光源，搭载具有高能量分辨的高纯锗探测器，建立了一套多能点X射线质量衰减系数的测量系统，对复合平板样品进行了X射线透过率测量，获得90keV以下多个单能点的X射线透过率测量数据。对测量及计算过程中的各项不确定因素进行了分析评定，包括光子计数、吸收片衰减率、样品质量厚度等。计算出的质量衰减系数相对合成标准不确定度约为2.39％。对减小质量衰减系数的测量不确定度的方法进行了讨论。