NASICON固体电解质的制备及其导电性能研究

摘要

利用溶胶-凝胶法制备了不同x(x=1.8～2.2)值的NASICON(Na1+xZr2SixP3-xO12)固体电解质材料,采用XRD检测了样品的晶体结构,利用交流阻抗谱研究了电解质的离子电导率与测试温度及x值的关系。结果表明,所得NASICON材料均为三方结构,当x为2.0时,本体电阻最小,离子电导率最高;测试温度在25～450°C之间时,离子电导率随温度升高而逐渐增大。