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基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度

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本文提出了基于单CCD应用线结构光测量熔覆层厚度的理论方法，结合摄像机标定、光平面标定、被测物体点三维坐标计算、数据融合、对应点匹配和熔覆层厚度计算等关键技术，建立了一套基于单CCD借助线结构光测量熔覆层厚度的系统，并对系统的结构进行了详细的叙述，此系统的建立为实现熔覆层厚度的定量测量提供了技术支持.

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来源
《第五届全国信息获取与处理学术会议》|2007年|23-25|共3页
会议地点秦皇岛·北戴河
作者
邢飞; 中国科学院研究生院; 刘伟军; 夏仁波;
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作者单位

中国食品仪表学会;

沈阳市仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP274.5;
关键词
摄像机标定; 线结构光; 熔覆层厚度; 数据融合;
入库时间 2022-08-17 11:19:15

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